艾思荔室內(nèi)燈珠測(cè)試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)機(jī)采用標(biāo)準(zhǔn)化多功能設(shè)計(jì)、有程序運(yùn)行和恒定運(yùn)行功能。主控制儀采用韓國進(jìn)口專用觸摸屏溫濕度控制儀，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡(jiǎn)單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進(jìn)行溫濕度試驗(yàn)。升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，特的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。具有定時(shí)功能。制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管，加濕采用不銹鋼加濕管，加濕方式為蒸汽加濕，水位自動(dòng)控制。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的主要技術(shù)指標(biāo)：

1 、溫度范圍： -40℃、-20℃～+150℃

2 、濕度范圍：20%～98%RH

3 、溫度波動(dòng)度：±0.5℃

4 、溫度偏差：≤2℃

5 、濕度偏差： +2-3%RH

6 、升降溫速率：0.5～1.2℃/min

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的安全保護(hù)裝置：

1 、電源超載、控制回路過載、短路保護(hù)

2 、接地保護(hù)、電機(jī)過載保護(hù)

3 、超溫保護(hù)

4 、壓縮過壓、過載保護(hù)

5 、為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的使用現(xiàn)場(chǎng)條件：

1．溫度：15℃~35℃

2．相對(duì)濕度：不大于85%RH

3．周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響

4．周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

5．無陽光直接照射或其它熱源直接輻射

6．周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。

7．試驗(yàn)室應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。

8．試驗(yàn)室的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。

9．安裝場(chǎng)地通風(fēng)良好

10．良好接地

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的服務(wù)：

1．提供設(shè)備的電氣原理圖、易耗件明細(xì)表、操作維護(hù)手冊(cè)等技術(shù)資料，并提供主要外購配套件的技術(shù)資料。

2．培訓(xùn)設(shè)備操作、維護(hù)人員，使其掌握設(shè)備的操作技能和一般性的維修、保養(yǎng)技能。

3．自設(shè)備通過驗(yàn)收之日起的1年內(nèi)，向買方提供免費(fèi)的售后服務(wù)

4. （相關(guān)軟件及技術(shù)升級(jí)長(zhǎng)期免費(fèi)支持）包修期滿后提供有償服務(wù)。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：

本試驗(yàn)室主要由庫體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，試驗(yàn)室內(nèi)并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的用途：

又稱為高低溫沖擊試驗(yàn)箱，適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。 本公司專業(yè)生產(chǎn)冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)、低溫試驗(yàn)室、高低溫（交變）試驗(yàn)室、高低溫（交變）濕熱試驗(yàn)室等等。可根據(jù)用戶要求，定制各種型號(hào)規(guī)格和大小的各類步入式試驗(yàn)室。

室內(nèi)燈珠測(cè)試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)機(jī)是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造：

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則